裂隙腦室的危害

　　裂隙腦室綜合征裂隙腦室綜合征(slitventriclesyndrome)發(fā)生率為0.9-55%，可以發(fā)生在交通性或非交通性腦積水病人的術后。裂隙腦室綜合征是指分流手術后數(shù)年(平均為4.5-6.5年)出現(xiàn)顱內壓增高的癥狀，如頭痛、惡心、嘔吐以及共濟失調、反應遲緩、昏睡等，CT檢查卻發(fā)現(xiàn)腦室形態(tài)小于正常，檢查分流管閥門為按下后再充盈緩慢，提示分流管腦室端阻塞。裂隙腦室綜合征的發(fā)病機制是由于腦脊液長期過度引流所致：當腦脊液大量引流后，腦室縮小，分流管腦室端發(fā)生功能性阻塞。

　　在腦室順應性較好時，腦脊液積聚可引起腦室的擴大，從而解除了阻塞，恢復分流管功能;長期反復的分流管功能性阻塞可導致腦脊液向腦室周圍室管膜下滲出和沿分流管外滲，受損的室管膜纖維化、室旁充血和膠質增生等，使得患者的腦室順應性逐漸降低，這時盡管腦脊液不斷產生，顱內壓不斷增高，但腦室不再擴大，分流管阻塞不能解除，而導致高顱內壓。使用抗虹吸裝置、更換分流管對預防裂隙腦室綜合征并無積極意義。有報道顳肌下減壓可緩解病人的癥狀，減少其發(fā)生率。